徠卡顯微鏡——掃描透射電子顯微鏡
徠卡顯微鏡掃描透射電子顯傲鏡通常指透射電鏡中有掃描附件，尤其是有了高亮度的場發射電子槍，束斑縮小了，分辨串接近透射電鏡的相應值時，便顯出了這類型電鏡的許多優點。首先是不經電磁透鏡成像，因而不受像差影響。徠卡顯微鏡電子經過較厚的樣品引起的能量損失不會形成色差而影響分辨率，所以可觀察較厚的標本。徠卡顯微鏡加速電壓不高，一般在20一40kv范圍。由于是逐點成侮，電子束在標本上的“點”停留的時間較短，因而雖用強電流的電子束照射但不至損害標本，而且還會得到清晰的像。徠卡顯微鏡這種電鏡一般是后接分析56，如接連x射線能譜儀和電子能量損失譜儀等附件。有的實驗室將其與能量分析器相接可以分別收集相處理彈性散射和非彈性散射電子，從而觀察單個原子。徠卡顯微鏡在八十年代使已得到清晰的金屆原子像。
徠卡顯微鏡掃描探針顯微鏡（SPM）
徠卡體視顯微鏡80年代，從此改變了顯微鏡領域的面貌5TM是一個不斷發展的探針顯微鏡家族成員之一。探針顯微針是用一特殊金屬針在表面掃描，
徠卡體視顯微鏡通過閱量探針與表面的相互作用而探究出表面的形貌。sTM的問世是由于需要一種儀器來探測半導體表面氧化物的分布。
徠卡體視顯微鏡滿足了這種需要，通過測量金屬針與表面之間的電子隧道電流可以監泅金屬針一表面的距離，從而反映出表面的高低起伏。幾年以后，BLn噸及其同事又宣布，探針顯檄鏡家族的第二個成員一掃描力顯微鏡問世，3PM亦稱原子力顯微鏡。SFM比STM更加靈活便通，通過選擇不同類型的力（離子斥力，靜電力、磁力和摩擦力等）便能制備成各種探針顯微鏡，徠卡體視顯微鏡80年代末，sTM開始有商品出售，90年代初，sFM也出現于市場，并且更多類型的sFM在發展。值得一提的是我國也能生產探針顯微鏡，也有商品出售。
徠卡體視顯微鏡按成傷原理，掃描探針顯微鏡是一種探針技術，并不局顯微鏡家族。但由于它對于表面的高分辨率，在其成像過程對標本表面損傷小，很快便得到了生物學家和生物物理學家的重視，并被應用于生物界多方面研究。STM和SFM都能在適當的情況下，得到表面形貌分辨率達原子級的圖像。徠卡體視顯微鏡在氣體及液體情況下部可應用。因此對于生物標本表面在生理情況下能提供表面的形貌。
徠卡體視顯微鏡所有的掃描探針顯微鏡都具有某些共同特點。所有的儀器都有一個探針和一個觀測表面。兩者相距十分近。徠卡體視顯微鏡通過某種壓電裝置，使兩者相對掃描。為檢測探針與表面的相互作用，還需要一個電路裝置。這便是掃描探針顯微鏡的大致結構，而探針與表面相互作用的性質便決定了掃描探針顯微鏡的類型。
徠卡顯微鏡的原理，用一根極細的金屬針尖在標本表面掃描，針尖與表面均為導體，兩者相距十分近，僅為幾個原子大小。在標本表面和針尖之間加一小電壓，便產生隧道電流。隧道電流十分小，僅為納安數量級。隧道電流產生于針尖與標本表面離針尖zui近的原子之間，由于隧道電流的大小取決于隧道間眩中電子波函數的重按程度，因此隧道電流隨針尖一表面距離的增大呈指數型下降，針尖與表面的距離變化0.1nm隧道電流將變化一個數量極。當針尖與標本表面相對掃描時，隧道電流的改變使反映了針尖與標本表面距離的變化。成像方式有許多類型，舉例如下：
1恒定電流成像：針尖與表面相對掃描P6用一反饋系統來調整針尖垂直于標本表面的位置，Q針尖在表面相對掃描時隧道電流保持恒定，從而反饋系統調節針尖在方向位置的信號就反映了標本表面的形貌。
2恒定高度成像：不加反饋系統，當計尖與表面相對掃描時，隧道電流的改變經放大后便直接反映標本表面的形貌。采用這種方式成像時，掃描速度比恒定電流成像要快些。
3跳躍工作式：此種成像方式是為了減小針尖與表面相對掃描時損傷表面。掃描時，針尖在移動到下一個點以前回縮，退回到設定值。探針形狀與質量決定了像的質量，生物學標本尤其如此。生物學用的針尖是鎢、金或鉑核合金，用電化學蝕到或切削，拉伸金屬絲制成。一般說來．針尖越細像的質量越好，理想的針尖直徑應與標本表面微細結構（如隆起或溝陷）的尺寸相當。當針尖與表面相對掃描時，針尖的與表面之間形成隧道，針尖的側面與表面隆起初的側面也產生隧道。生物學標本的像受針尖的幾何形狀和隧道機制的影響。針尖形狀在成像中的作用可估算，但隧道導電機制并不全清楚，對像的影響也不清楚。
